Микроскоп для лаборатории электронный
Фильтр
Страна
США
Тип
электронный
Разрешение изображения
до 6144 x 4096 пикселей
Формат изображения
TIFF (8, 16, 24-битный), BMP или JPEG
Страна
США
Тип
электронный
Разрешение изображения
до 6144 х 4096 пикс
Угол поворота
n x 360°
Формат изображения
TIFF (8, 16, 24 bit), BMP, JPEG
Страна
США
Тип
электронный
Разрешение изображения
до 6144 × 4096 пикселей
Угол поворота
n x 360°
Формат изображения
TIFF (8, 16, 24 бит), JPEG или BMP
Страна
США
Тип
электронный
Разрешение изображения
456х456, 684х684, 1024х1024, 2048х2048
Формат изображения
JPEG, TIFF, BMP
Страна
США
Тип
электронный
Разрешение изображения
456×456, 684×684, 1024×1024, 2048×2048
Формат изображения
JPEG, TIFF, BMP
Страна
США
Тип
электронный
Разрешение изображения
456×456, 684×684, 1024×1024, 2048×2048
Формат изображения
JPEG, TIFF, BMP
Страна
США
Тип
электронный
Разрешение изображения
456×456, 684×684, 1024×1024, 2048×2048
Формат изображения
JPEG, TIFF, BMP
Страна
США
Тип
электронный
Разрешение изображения
456×456, 684×684, 1024×1024, 2048×2048
Формат изображения
JPEG, TIFF, BMP
Страна
США
Тип
электронный
Разрешение изображения
456×456, 684×684, 1024×1024, 2048×2048
Формат изображения
JPEG, TIFF, BMP
Страна
США
Тип
электронный
Разрешение изображения
до 6144 x 4096 пикселей
Увеличение
14x — 1 000 000x
Формат изображения
TIFF (8- или 16-битный), BMP, JPEG
Страна
США
Тип
электронный
Разрешение изображения
до 6144×4096 пикс.
Технология сканирования
SmartSCAN (до 256 интегрированных изображений в одном)
Угол поворота
n x 360°
Формат изображения
TIFF (8, 16, 24 bit), BMP, JPEG
Страна
Китай
Тип
электронный
Детекторы
Высоковакуумный детектор вторичных электронов SE (с защитой детектора), Полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния (BSE)
Увеличение
15x — 800 000x
Страна
Китай
Тип
электронный
Детекторы
Высоковакуумный детектор вторичных электронов SE (с защитой детектора), Полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния (BSE)
Увеличение
15x — 500 000x
Страна
Китай
Тип
электронный
Детекторы
Высоковакуумный детектор вторичных электронов SE (с защитой детектора), BSE, EDS, EBSD - опционально
Оптическая система
Диафрагма объектива - молибденовая, регулируемая внешней вакуумной системой, Система линз - трехуровневая электромагнитная линза (конический тип)
Увеличение
15x — 250 000x (инвертированное), 30x — 500 000x (экранное)
Страна
Китай
Тип
электронный
Детекторы
Высоковакуумный детектор вторичных электронов SE (с защитой детектора), Полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния (BSE)
Оптическая система
Диафрагма объектива - молибденовая, регулируемая внешней вакуумной системой, Система линз - трехуровневая электромагнитная линза (конический тип)
Увеличение
6x — 300 000x (инвертированное), 12x — 600 000x (экранное)
Загрузить еще
- 1
- 2
Подобрать оборудование
Для того чтобы подать заявку, пожалуйста, заполните форму ниже. Мы свяжемся с Вами в ближайшее время для уточнения деталей и дальнейшего сотрудничества.