Растровый электронный микроскоп JEOL JIB-4000 PLUS
Запросить КП
Нужна консультация?
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос
Характеристики
Производитель | JEOL |
Страна | Япония |
Тип | электронный |
Апертурная диафрагма | 12-позиционная |
Диапазоны перемещений столика для образцов РЭМ | Ось X: ±11 мм, Ось Y: ±15 мм, Ось Z: -23…+0,5 мм, Наклон: -5°…+60°, Вращение: 360°, непрерывное |
Источник ионов | галлиевый |
Максимально допустимые размеры образцов | Диаметр - 28 мм, высота – 13 мм, , Диаметр - 50 мм, высота – 2 мм |
Опционально | Углеродный картридж (IB-52110CDC2), Вольфрамовый картридж (IB-52120WDC2), Платиновый картридж (IB-52130WDC2), Система напуска газа (IB-02100GIS2), Гониометрический столик бокового ввода (IB-01040SEG), Детектор тока пучка (IB-04010PCD), Панель оператора (IB-05010OP), Система навигации по большим образцам (IB-01200SNS), Держатель для тонких образцов (EM-02210), Держатель для массивных образцов (EM-02220), Держатель для массивных образцов FIB 1 (EM-02560FBSH1), Держатель для массивных образцов FIB 2 (EM-02570FBSH2), Переходник для держателей термополевых РЭМ (EM-02580FSHA), Наконечник для держателей ПЭМ (EM-02280), Настольная система монтажа образцов ПЭМ на держатели (EM-02230) |
Разрешение изображений во вторичных электронах | 5 нм (при ускоряющем напряжении 30 кВ) |
Статус товара | Под заказ |
Ток пучка | до 60 нА (при ускоряющем напряжении 30 кВ) |
Увеличение | 60x (в режиме навигации по образцу) / 200x — 300 000x |
Ускоряющее напряжение | 1 - 30 кВ (с шагом 5 кВ) |
Похожие товары
- Комментарии
Загрузка комментариев...