Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7610F PLUS
Запросить КП
Нужна консультация?
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос
Характеристики
Производитель | JEOL |
Страна | Япония |
Тип | электронный |
Вакуумная система | Полностью автоматизирована, Ионный насос — 2 шт., Турбомолекулярный насос — 1 шт., Форвакуумный ротационный насос — 1 шт., Криоловушка |
Диапазон рабочих отрезков | от 1 до 40 мм |
Источник электронов | Термоэмиссионный катод (катод Шоттки) |
Максимально допустимые размеры образцов | 200 мм (с использованием столика образцов типа III и 8-дюймового шлюза) |
Предметный стол | Эвцентрический гониометрический столик, Моторизованный по 5-ти осям, Диапазоны перемещений образца для различных типов столиков: , X: 70 мм, Y: 50 мм (тип IA), X: 110 мм, Y: 80мм (тип II), X: 140 мм, Y: 80мм (тип III), , Диапазон углов наклона образца: от -5° до +70°, Вращение: 360° |
Размеры получаемых изображений | 5120х3840 пикселей, 2560х1920 пикселей, 1280х960 пикселей |
Разрешение изображений во вторичных электронах | 0,8 нм (15 кВ), 1,0 нм (1 кВ), 0,8 нм (1 кВ, режим торможения луча) |
Статус товара | Под заказ |
Ток пучка | от 1 пА до более, чем 200 нА |
Увеличение | 25x — 1 000 000x (в пересчете на площадь фотопластины 120x90 мм) |
Ускоряющее напряжение | 100 В - 30 кВ |
Похожие товары
- Комментарии
Загрузка комментариев...