Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7900F
Нужна консультация?
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос
Характеристики
| Производитель | JEOL |
| Страна | Япония |
| Тип | электронный |
| Давление в камере образцов при работе в низковакуумном режиме | 10 - 300 Па |
| Детекторы | Верхний детектор электронов (UED), Нижний детектор вторичных электронов (LED), Верхний детектор вторичных электронов (USD), Детектор отраженных электронов для малых рабочих отрезков (BED) |
| Диапазоны перемещений столика для образцов РЭМ | X: 70мм, Y: 50мм |
| Источник электронов | Термополевой(катод Шоттки) |
| Опционально | Энергодисперсионный спектрометр, Спектрометр с дисперсией по длинам волн, Система дифракции отраженных электронов, Система катодолюминесценции, Наноманипуляторы, Детектор тока, индуцированного пучком (EBIC) |
| Предметный стол | Полностью эвцентрический гониометрический столик, моторизованный по 5 осям |
| Рабочее расстояние | от 2мм до 41мм |
| Разрешение изображений во вторичных электронах | 0,6 нм(15 кВ)0,7 нм(1 кВ)3,0 нм (5 кВ, WD10мм, 5 нА) |
| Ток пучка | От нескольких пА до 500нА |
| Увеличение | 25x — 1 000 000x |
| Ускоряющее напряжение | От 0,01кВ до 30кВ |
Похожие товары
-
Масса, кг193 кг
- Комментарии
Загрузка комментариев...
Подобрать оборудование
Для того чтобы подать заявку, пожалуйста, заполните форму ниже. Мы свяжемся с Вами в ближайшее время для уточнения деталей и дальнейшего сотрудничества.