Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-IT200
Запросить КП
Нужна консультация?
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос
Характеристики
Производитель | JEOL |
Страна | Япония |
Тип | электронный |
Вакуумная система | Полностью автоматизирована, Турбомолекулярный насос — 1 шт., Форвакуумный насос — 1 шт. |
Давление в камере образцов при работе в низковакуумном режиме | От 10 до 100 Па |
Диапазон рабочих отрезков | От 5 до 48 мм |
Низковакуумный режим | Доступен |
Опционально | Энергодисперсионный спектрометр, Детектор дифракции отраженных электронов, Система катодолюминесценции, Наноманипуляторы, Детектор тока, индуцированного пучком (EBIC), Столики образцов с функциями охлаждения и нагрева, Столик образцов для механических испытаний |
Предметный стол | Тип: эвцентрический гониометрический, Моторизация: по 2 осям - базовый комплект,по 3 или 5-ти осям - опции, Диапазон перемещений: X: 80 мм, Y: 40 мм, Z: 43мм, Наклон: от -10 до 90°, Вращение: 360°, непрерывное |
Разрешение в режиме высокого вакуума | 3,0 нм (30 кВ),8,0 нм (3 кВ),15,0 нм (1 кВ) |
Разрешение в режиме низкого вакуума | 4,0 нм (30 кВ, детектор отраженных электронов) |
Статус товара | Под заказ |
Ток пучка | От 1 пА до 300 нА (опция: от 1 пА до 1 мкА) |
Увеличение | 5x — 300 000x (в пересчете на размеры фотопластины 128x96мм) |
Ускоряющее напряжение | 0,5 - 30 кВ |
Формат изображения | BMP, TIFF, JPEG |
Формат регистрируемых видеороликов | AVI |
Похожие товары
- Комментарии
Загрузка комментариев...