Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-IT500
Запросить КП
Нужна консультация?
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос
Характеристики
Производитель | JEOL |
Страна | Япония |
Тип | электронный |
Вакуумная система | Полностью автоматизирована, Турбомолекулярный насос — 1 шт., Форвакуумный ротационный насос — 2 шт.(в конфигурации LV/LA), 1 шт. (в высоковакуумной конфигурации) |
Вакуумный шлюз | Доступен |
Давление в камере образцов при работе в низковакуумном режиме | От 10 до 650 Па |
Катод | Термоэмиссионный, вольфрамовый или LaB6, предварительно центрированный на заводе |
Низковакуумный режим | Доступен |
Опционально | Энергодисперсионный спектрометр, Спектрометр с дисперсией по длинам волн, Система дифракции отражённых электронов, Спектрометр комбинационного рассеяния света, Система рентгеновского флуоресцентного микроанализа , Система катодолюминесценции, Наноманипуляторы, Детектор тока,индуцированного пучком (EBIC), Столики образцов с функциями охлаждения и нагрева, Столик образцов для механических испытаний |
Предметный стол | Эвцентрический гониометрический столик, Моторизованный по 5-ти осям, Диапазон перемещений: X: 125 мм, Y: 100 мм, Z: 80 мм, Наклон: от -10 до 90°, Вращение: 360°, непрерывное |
Размеры получаемых изображений | до 5120х3840 пикс |
Разрешение в режиме высокого вакуума | 2,5 нм (30 кВ, LaB6 катод), 3,0 нм (30 кВ, вольфрамовый катод), 8,0 нм (3 кВ), 15,0 нм (1 кВ) |
Разрешение в режиме низкого вакуума | 3,5 нм (30 кВ, LaB6 катод, детектор отраженных электронов), 4,0 нм (30 кВ, W катод, детектор отраженных электронов) |
Статус товара | Под заказ |
Ток пучка | от 1 пА до 1мкА |
Увеличение | 5x — 300 000x (в пересчете на размеры фотопластины 128x96мм) |
Ускоряющее напряжение | 0,3 - 30 кВ |
Формат изображения | BMP, TIFF, JPEG |
Формат регистрируемых видеороликов | AVI |
Похожие товары
- Комментарии
Загрузка комментариев...